天線測量解決方案Microwave Vision Group（MVG）宣布參加2023年8月20日至23日在哈爾濱舉辦的全國天線會議，并參與會議同期進行的產品展覽，展出其采用了MVG無限采樣專利技術的多探頭測試系統——SG Evo。

在由多探頭測試系統進行的球形天線測量中，DUT在方位角上旋轉，而設備周圍的電磁場同時被多探頭陣列掃描。對于大型天線和/或工作在更高頻率的天線，如毫米波，需要更多的測量點或樣本，以尊重奈奎斯特準則，無限制取樣是關鍵。

MVG的無限采樣專利技術通過對DUT定位器或探頭陣列進行輕微的機械旋轉來創造額外的虛擬探頭。利用這一無限采樣技術，系統提供以達到無限的掃描分辨率。無限采樣是通過結合自動化機械運動和探陣列電掃描來實現。

為了測試5G大規模MIMO BTS、衛星及地面終端天線等大型、重型天線，MVG設計出用于進行天線球面近場測試和OTA測試的多探頭陣列測試SG Evo系統，該系統在拱形環中整合了無限采樣定位功能，減少了被測設備的移動，以提升測試結果的速度和準確性。

由于SG Evo的拱形環采用了MVG無限采樣專利技術，無需在多重采樣時傾斜被測設備，即使在測試重型被測設備時也避免了被測設備和方位角定位器的重力偏轉。此外，無限采樣技術通過旋轉加上探針陣列的額外電子掃描，引入了更多的數據收集點，形成了完整的測量球面，從而獲得了jingque的分析能力。因此，SG Evo系統能夠以前所未有的速度給出的天線性能測試結果。cc

此外，SG Evo還能通過配備多個平行接收器大幅縮短測量時間, 尤其是在測試大量頻率或者具有眾多潛在天線波束狀態的設備時。

SG Evo的模塊化設計還為其架構帶來了靈活性: 探頭陣列拱形環和定位器模塊的尺寸可以根據被測設備的典型尺寸和重量來確定，還可以根據被測頻率（400 MHz至30 GHz）選擇多套探頭。憑借MVG無限采樣專利技術和這些主要特性，SG Evo能夠以快于傳統測試方法10-100倍的速度進行測試和測量。

MVG 亞太技術總監Mathieu Mercier表示：“SG Evo適于廣泛的應用以及在測試的所有階段都非常有用，從研發的初始原型測試到生產中全集成設備的終驗證測試。無源天線測量和OTA測試均適用于SG Evo。”

除了SG Evo之外，MVG還將在會議期間展示一系列具創新性的5G測試技術和多探針天線測試與測量解決方案。MVG此次參展的展位號是11號，歡迎蒞臨參觀和體驗。